- 期刊简称TECHNOMETRICS
- 参考译名《技术计量学》
- 核心类别高质量科技期刊（T2）,SCIE（2024版）,目次收录（维普）,目次收录（知网）,外文期刊,
- IF影响因子
- 自引率
- 主要研究方向管理科学-STATISTICS & PROBABILITY统计学与概率论
主要研究方向：等待设置主要研究方向管理科学-STATISTICS & PROBABILITY统计学与概率论
期刊基本信息
出版周期：季刊 级别：美国
国际标准刊号：ISSN 0040-1706；EISSN 1537-2723
期刊语言：英语
出版区域：美国
价格：0
影响因子：
自引率：
杂志社联系方式
出版地址：TAYLOR & FRANCIS INC , 530 WALNUT STREET, STE 850, PHILADELPHIA, USA, PA, 19106
期刊邮箱：
投稿官方网站：https://mc.manuscriptcentral.com/amstat
期刊官方网站：https://amstat.tandfonline.com/journals/utch20
出版商官方网站：http://www.amstat.org/
杂志征稿投稿要求
刊知网提示：
1、投稿方式：在线投稿。
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4、期刊刊期：季刊，一年出版4期。
2023年8月11日星期五